JIS C5022-1978 电子元器件干热试验规程
作者:标准资料网 时间:2024-05-10 04:03:13 浏览:8402
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【英文标准名称】:Dryheattestingproceduresforelectroniccomponents
【原文标准名称】:电子元器件干热试验规程
【标准号】:JISC5022-1978
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1978-09-01
【实施或试行日期】:1978-09-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:干燥;热阻;加热试验;试验;热试验;电子设备及元件;电气元件;通信设备
【英文主题词】:communicationequipment;thermaltesting;thermalresistance;heatingtests;;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:
【页数】:5P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:电子元器件干热试验规程
【标准号】:JISC5022-1978
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1978-09-01
【实施或试行日期】:1978-09-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:干燥;热阻;加热试验;试验;热试验;电子设备及元件;电气元件;通信设备
【英文主题词】:communicationequipment;thermaltesting;thermalresistance;heatingtests;;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:
【页数】:5P;A4
【正文语种】:日语
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