SJ/T 10741-1996 半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 10:33:39 浏览:8949
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits |
| 中标分类： |
化工 >>
化工综合 >>
技术管理 |
| 替代情况： | 替代GB 3834-83; |
| 发布日期： | 1996-11-20 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 39页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 化工 化工综合 技术管理
基本信息
| 标准名称： | 小型面粉加工成套设备 试验方法 |
| 英文名称： | Test method for small-sized complete set equipment for processing wheat flour |
| 中标分类： |
农业、林业 >>
农、林机械与设备 >>
农副产品与饲料加工机械 |
| ICS分类： |
农业 >>
农业机械、工具和设备 >>
其他农业机械和设备
|
| 替代情况： | JB/T 8838.2-1999 |
| 发布部门： | 全国农业机械标准化技术委员会 |
| 发布日期： | 2000-07-19 |
| 实施日期： | 2000-08-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 全国农业机械标准化技术委员会 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-24 |
| 页数： | 17 页 |
| 批文号： | 国机管[2000]351号 |
适用范围
JB/T 8838.2-2000 本标准是对JB/T 8838.2-1999《小型面粉加工成套设备 试验方法》的修订。标准修订时扩展了适用范围；增加了成套设备日处理小麦量的生产率指标；可靠性考核办法作了具体规定；其它内容也有改动。 本标准是JB/T 8838《小型面粉成套加工设备》系列标准的一部分。该系列标准包括： JB/T 8838.1-2000 小型面粉加工成套设备 技术条件 JB/T 8838.2-2000 小型面粉加工成套设备 试验方法 本标准规定了小型面粉加工成套设备的性能试验和生产试验的条件和方法。 本标准适用于小型面粉加工成套设备。 本标准于1987年以ZB X91 002.2-87首次发布，于199年标准呈调整为JB/T 8838.2-1999。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 农业 林业 农 林机械与设备 农副产品与饲料加工机械 农业 农业机械 工具和设备 其他农业机械和设备
【英文标准名称】:Flexiblecellularplasticswithskin.Scratchingtest.
【原文标准名称】:带皮软微孔塑料.刮平试验
【标准号】:NFR81-301-1980
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1980-12-01
【实施或试行日期】:1980-12-27
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试样;塑料;试验;试验设备;擦伤试验;软塑料;多孔材料;柔性材料;生皮;机动车工程;道路车辆工程;微孔塑料
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:T05;G31
【国际标准分类号】:83_100
【页数】:2P;A4
【正文语种】:其他
